一个系统的模块结构图如下所示，用{X,X,X}表示这个系统的测试模块组合。下面的选项中(20)表示自顶向下的测试，(21)表示三明治式测试。
A．{A}{A,B,C,D,E}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
B．{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B,F,G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
C．{K}{J}{I}{H}{G}{F}{B}{C}{D}{E}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
D．{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B,F,G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A,B,C,D,E,F,G,H,I,J,K}
第1题：
集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法是（）。
A．自顶向下渐增式测试
B．自底向上渐增式测试
C．非渐增式测试
D．系统测试
第2题：
线性位移不变系统的图像退化数学模型是假定成像系统是线性位移不变系统（退化性质与图像的位置无关），它的点扩散函数用h（x,y)表示，受到加性噪声的干扰用n（x,y)表示，则获取的图像g（x,y)表示为（）。
A．g(x,y)=f(x,y)*h(x,y)-n(x,y)
B．g(x,y)=f(x,y)*h(x,y)+n(x,y)
C．g(x,y)=f(x,y)/h(x,y)+n(x,y)
D．g(x,y)=f(x,y)+h(x,y)+n(x,y)
第3题：
13、集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法为（）。
A．自顶向下渐增式测试
B．自底向上渐增式测试
C．非渐增式测试
D．系统测试
第4题：
第5题：
下图(a)是一个程序的模块结构，模块A是主模块。下图(b)是集成测试顺序的示意图。从此图可知，这个集成策略是：
A．自顶向下集成
B．自底向上集成
C．大突击集成
D．三明治式集成
第6题：
下图(a)所示为一个模块层次结构的例子，图(b)所示为对其进行集成测试的顺序，则此测试采用了()测试策略。该测试策略的优点不包括(35)。
A.自底向上
B.自顶向下
C.三明治
D.一次性
第7题：
一个系统的模块结构图如下所示，用{×，×，×}表示这个系统的测试模块组合。下面的选项中(71)表示自顶向下的测试，(72)表示三明治式测试。
A．{A){A,B,C,D,E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
B．{F}{G){H}{I}{J}{K}{B，F，G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
C．{K}{J}{I}{H}{G}{F}{B}{C}{D}{E}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
D．{A}{F}{G}{H}{I}{J}{K}{B，F，G}{C,H}{D,I,J}{E,K}{A，B，C，D，E，F，G，H，I，J，K}
第8题：
集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是______。
A) 自底向上渐增式测试方法
B) 自顶向下渐增式测试方法
C) 非渐增式测试方法
D) 系统测试方法
A．
B．
C．
D．
第9题：
集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是 ______。
A．自底向上渐增式测试方法
B．自顶向下渐增式测试方法
C．非渐增式测试方法
D．系统测试方法