填空题JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

题目
填空题
JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
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第1题:

JB/T4730标准规定,关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行()评级。


正确答案:综合

第2题:

JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?


正确答案: 缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。

第3题:

JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。


正确答案:照相

第4题:

JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。


正确答案:正确

第5题:

JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?


正确答案: 1、磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
2、非荧光磁粉检测时,磁痕的评定应在可见光下进行,通常工件被检表面可见光照度应大于等于1000lx;当现场采用便携式设备检测,由于条件所限无法满足时,可见光照度可以适当降低,但不得低于500lx。
3、荧光磁粉检测时,所用黑光灯在工件表面的辐照度大于或等于1000μW/cm2,黑光波长应在320nm~400nm的范围内,磁痕显示的评定应在暗室或暗处进行,暗室或暗处可见光照度应不大于20lx。
4、检测人员进入暗区,至少经过3min的黑暗适应后,才能进行荧光磁粉检测。观察荧光磁粉检测显示时,检测人员不准戴对检测有影响的眼镜。
5、除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不当造成的之外,其他磁痕显示均应作为缺陷处理。当辨认细小磁痕时,应用2倍~10倍放大镜进行观察。

第6题:

对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。


正确答案:正确

第7题:

按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。


正确答案:照相;录相;可剥性塑料薄膜

第8题:

JB/T4730标准规定,磁痕显示分为()

  • A、相关显示
  • B、非相关显示
  • C、伪显示
  • D、以上都是

正确答案:D

第9题:

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。


正确答案:正确

第10题:

记录缺陷磁痕的常用方法有()、()、()和()等


正确答案:照相法;绘草图法;胶带法;薄膜法