用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

第1题：

第2题：

用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。

第3题：

第4题：

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

第5题：

用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整

• A、直线形
• B、圆形
• C、平行的弧线
• D、直线形、圆形和平行的弧线

第6题：

使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。

第7题：

用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。

第8题：

第9题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

第10题：

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？