0.9μm
0
0.3μm
第1题：
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
第2题：
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
第3题：
第4题：
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
第5题：
用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。
第6题：
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。
第7题：
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
第8题：
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm
第9题：
用平晶测量平面度误差时应如何评定？
第10题：
用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。