0.9μm
0
1.8μm
第1题:
A、球面干涉
B、等厚干涉
C、等倾干涉
第2题:
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。
第3题:
第4题:
用周铣铣削矩形工件垂直面时,若基准平面的()差,则影响工件的位置精度。
第5题:
用平面平晶检查平面度时,如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时,其平面度是()。
第6题:
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔干涉条纹,则其平面度为()。
第7题:
用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。
第8题:
A、0.9μm
B、0
C、1.8μm
第9题:
测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。
第10题:
用平晶检测平面度,有时看不见干涉条纹,这可能是由于()。