测量滞后一般由测量元件特性引起,克服测量滞后的办法是在调节规律中增加积分环节。

题目

测量滞后一般由测量元件特性引起,克服测量滞后的办法是在调节规律中增加积分环节。

参考答案和解析
正确答案:错误
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第1题:

双容对象特性与单容对象特性相比增加了()。

A、纯滞后

B、传送滞后

C、测量滞后

D、容量滞后


参考答案:D

第2题:

化工测量过程中测量参数()测量易引起纯滞后。

  • A、温度、成分
  • B、压力、成分
  • C、流量、温度
  • D、液位、流量

正确答案:D

第3题:

由于微分调节规律有超前作用,因此调节器加入微分作用主要是用来()。

A.克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τC和纯滞后τo

B.克服调节对象的纯滞后τo

C.克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τc

D克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)


标准答案:C

第4题:

测量设备计量特性的:()。

  • A、测量范围
  • B、偏移
  • C、重复性
  • D、稳定性
  • E、滞后

正确答案:A,B,C,D,E

第5题:

()存在纯滞后,但不会影响调节品质。

  • A、调节通道
  • B、测量元件
  • C、变送器
  • D、干扰通道

正确答案:D

第6题:

由于微分调节规律有超前作用,因此调节器加入微分作用主要是用来()

  • A、克服调节对象的惯性滞后(时间常数)、容量滞后和纯滞后
  • B、克服调节对象的纯滞后
  • C、克服调节对象的惯性滞后(时间常数)、容量滞后
  • D、克服调节对象的容量滞后、纯滞后

正确答案:C

第7题:

由于微分调节规律有超前作用,因此调节器加入微分作用主要是用来()

  • A、克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τc和纯滞后τo
  • B、克服调节对象的纯滞后τo
  • C、克服调节对象的惯性滞后(时间常数T)、容量滞后τc

正确答案:C

第8题:

滞后产生的原因包括()。

A、测量元件安装位置不当

B、测量变送单位本身存在滞后

C、测量信号的传递滞后

D、以上都不对


参考答案:ABC

第9题:

()是根据偏差的变化趋势(变化速度)而动作的,它主要用来克服容易滞后的对象。

  • A、积分调节作用
  • B、比例调节作用
  • C、微分调节规律
  • D、比例积分调节规律

正确答案:C

第10题:

串级调节系统主要用于改善()较大的对象,具有超前控制作用。

  • A、容量滞后
  • B、测量滞后
  • C、惯性滞后
  • D、纯滞后

正确答案:D