视场的范围超出被检查的揭破部位。
被检查的揭破部位超出视场的范围。
TR过大。
TE过大。
扫描时间过长。
第1题：
主要出现在频率编码方向的图像伪影是()。
A、运动伪影
B、磁敏感伪影
C、截断伪影
D、卷褶伪影
E、化学位移伪影
第2题：
MRI设备伪影主要有
A.化学位移伪影
B.卷褶伪影
C.截断伪影
D.部分容积效应
E.层间干忧
第3题：
造成卷褶伪影主要是因为
A.视场的范围超出被检物体
B.被检物体超出视场的范围
C.TR过大
D.TE过大
E.扫描时间过长
第4题：
不属于磁共振伪影的是（）
第5题：
造成卷褶伪影主要是因为（）
第6题：
造成卷摺伪影主要是因为：()。
A.视场的范围超出被检查的揭破部位。
B.被检查的揭破部位超出视场的范围。
C.TR过大。
D.TE过大。
E.扫描时间过长。
第7题：
造成卷摺伪影主要是因为（）
第8题：
关于卷褶伪影的说法，正确的是
A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的
B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现
C、卷褶伪影出现在频率编码方向
D、卷褶伪影出现在相位编码方向
E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上
第9题：
金属产生的伪影称（）
第10题：
卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致
卷褶伪影主要发生在频率编码方向上
变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影
施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影
增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率