当每扇区2载频时，广覆盖低损配置采用EDU或双CDU，其发射损耗均为1.0dB，一般配置采用CDU（损耗为4.5dB.；
当每扇区4载频时，广覆盖低损配置采用的CDU＋CDU（损耗为4.5dB.，一般配置采用CDU＋SCU（损耗为8.0dB.；
C、当每扇区6载频时，一般配置采用CDU＋CDU＋SCU方式（其中2载频插损4.5d4载频插损8.0dB，可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题），特殊低损配置采用CDU＋CDU＋CDU方式（损耗为4.5dB，需要2根单极化天线）；
当每扇区8载频时，一般采用双CDU＋双SCU方式（载频插损8.0dB.，有覆盖要求的低损方案采用3CDU＋SCU方式（低损载频损耗为4.5dB，可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题，但需要4幅天线）。
第1题：
A.频率资源允许的情况下预留2～3频点，用于市区高层基站，其他基站仍旧按照常规频率复用方式规划；
B.使用多层频率复用方式（MRP）并结合同心圆及相应的信道分配算法，利用BCCH和TCH合路损耗的差异，使得基站远端用户占用TCH载频，基站近端用户占用BCCH载频，以此同时满足覆盖和容量需求；
C.使用多层频率复用方式（MRP）并结合同心圆及相应的信道分配算法，利用BCCH和TCH合路损耗的差异，使得基站近端用户占用TCH载频，基站远端用户占用BCCH载频，以此同时满足覆盖和容量需求；
D.都不选用；
第2题：
时隙配置对网络规划的影响，下列描述正确的是()
A、时隙规划要满足系统共存的要求
B、时隙规划会影响网络的覆盖
C、时隙规划会影响网络的容量
D、时隙规划与业务无关
第3题：
A.当每扇区2载频时，广覆盖低损配置采用EDU或双CDU，其发射损耗均为1.0dB，一般配置采用CDU（损耗为4.5dB.；
B.当每扇区4载频时，广覆盖低损配置采用的CDU＋CDU（损耗为4.5dB.，一般配置采用CDU＋SCU（损耗为8.0dB.；
C.当每扇区6载频时，一般配置采用CDU＋CDU＋SCU方式（其中2载频插损4.5dB.4载频插损8.0dB，可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题），特殊低损配置采用CDU＋CDU＋CDU方式（损耗为4.5dB，需要2根单极化天线）；
D.当每扇区8载频时，一般采用双CDU＋双SCU方式（载频插损8.0dB.，有覆盖要求的低损方案采用3CDU＋SCU方式（低损载频损耗为4.5dB，可以利用同心圆技术解决覆盖和容量问题，但需要4幅天线）。
第4题：
第5题：
第6题：
下列关于测试方法，说法正确的是 ______。
A．白盒测试不同于黑盒测试之处是它可以减少测试用例数量
B．覆盖所有独立路径就能够覆盖所有分支
C．在单元测试中不使用黑盒测试技术
D．满足分支覆盖就满足条件覆盖和语句覆盖
第7题：
A.功分器输入输出倒过来用就是合路器
B.合路器各端口频率不同，功分器各端口频率相同
C.功分器与合路器隔离度相同
D.合路器可以取代功分器
第8题：
A．错误
B．正确
第9题：
第10题：