对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法

题目
单选题
对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法
A

测量电位分布

B

测量电流分布

C

火花间隙放电叉

D

热红外检测

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第1题:

关于悬式绝缘子和支柱绝缘子的绝缘电阻测量的说法,正确的是()。

A.每片悬式绝缘子的绝缘电阻值,不应低于300MΩ
B.35kV及以下的支柱绝缘子的绝缘电阻值,不应低于500MΩ
C.采用2500V兆欧表测量绝缘子的绝缘电阻值,可按同批产品数量的10%抽查
D.棒式绝缘子不进行此项试验
E.每片悬式绝缘子的绝缘电阻值,不应低于500MΩ

答案:A,B,C,D
解析:
2020版教材P85 / 2019版教材P75
悬式绝缘子和支柱绝缘子的绝缘电阻测量要求包括:(1)每片悬式绝缘子的绝缘电阻值,不应低于300MΩ。(2)35kV及以下的支柱绝缘子的绝缘电阻值,不应低于500MΩ。(3)采用2500V兆欧表测量绝缘子的绝缘电阻值,可按同批产品数量的10%抽查。(4)棒式绝缘子不进行此项试验。

第2题:

lOkV配电线路中,耐张杆应选用()。

  • A、悬式绝缘子
  • B、针式绝缘子
  • C、蝶式绝缘子
  • D、合成绝缘子

正确答案:A

第3题:

悬式绝缘子多组成绝缘子串,用于10kV及以上的线路。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案:正确

第4题:

绝缘子带电测试的目的:一是检测出运行绝缘子串中零值和劣质绝缘子,并将其更换,以保证绝缘子串不发生闪络事故;二是通过对绝缘子的定期检测,分析评估绝缘子的劣化趋势。


正确答案:正确

第5题:

对于普通悬式绝缘子串盐密测量取样,可取上、中、下三片的平均值,也可取整串测测量结果。


正确答案:正确

第6题:

耐张绝缘子串比悬垂绝缘子串易劣化,是因为绝缘子质量问题引起的。

A

B



第7题:

对普通悬式绝缘子串的盐密测量,应测取()绝缘子的平均值。

  • A、2片
  • B、3片
  • C、4片
  • D、5片

正确答案:B

第8题:

绝缘子带电测试的目的:一是检测出运行绝缘子串中零值和劣质绝缘子,并将其更换,以保证绝缘子串不发生闪络事故;二是通过对绝缘子的定期检测,分析评估绝缘子的劣化趋势。()

此题为判断题(对,错)。


参考答案:正确

第9题:

对运用中的悬式绝缘子串劣化绝缘子的检出测量,不应选用()的方法。

  • A、测量电位分布
  • B、火花间隙放电叉
  • C、热红外检测
  • D、测量介质损耗因数tgδ

正确答案:D

第10题:

不适合用火花间隙法检测的绝缘子是()。

  • A、针式绝缘子;
  • B、柱式绝缘子;
  • C、少于4片的悬式绝缘子串;
  • D、以上全选。

正确答案:D