在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器；
在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器；
增大放大器的通带宽度；
采用阻抗试验方法.
第1题：
减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是（）
第2题：
露出表面的缺陷产生的显示：（）
第3题：
AMT
BPT
CUT
DRT
第4题：
渗透检测产生的显示，通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。
第5题：
如果可见的栅格间距设置得太小，AutoCAD将出现（）提示。
第6题：
相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的，非相关显示不是由漏磁场产生的。
第7题：
显像剂显示的缺陷图象尺寸比缺陷真实尺寸要小。
第8题：
下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法（）。
第9题：
磁粉探伤是根据漏磁场原理而达到（）缺陷的目的。
第10题：
表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示，但（）缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰