当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的

第1题：

M型介质试验器被试品测试支路包括被试品的等值电阻、等值电容及测量用电阻。

A对

B错

第2题：

当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。

A对

B错

第3题：

tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

A对

B错

第4题：

西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

第5题：

当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

A对

B错

第6题：

西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

A对

B错

第7题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

A对

B错

第8题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。

A对

B错

第9题：

当被试品本身电容量较大时，可采用串并联谐振法进行交流耐压试验。

第10题：

当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。