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从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

题目

从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

  • A、过程处于统计控制状态
  • B、具有足够的生产能力
  • C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
  • D、过程处于统计控制状态但过程能力不足
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第1题：

关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态

B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态

C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态

D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，

E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


正确答案：BDE
BDE。

第2题：

绘制分析用控制图阶段的主要工作有（ ）。

A.分析过程是否处于统计控制状态

B.分析过程是否存在偶然波动

C.实时分析数据，监控过程长期运行状态

D.分析过程的过程能力指数是否满足要求

E.分析过程合格率低的原因


答案：A,D
解析：
。选项C为控制用控制图的工作。

第3题：

过程能力指数Cp小于1.0表示（ ）。

A.过程能力不足

B.应该进过程

C.应减少过程输出特性的表差

D.过程未处于统计控制状态

E.理论小过程中心和技术中心的偏移量


正确答案：ABC
Cp不能反映过程中心和技术中心的偏移，所以选项E错误。过程处于统计控制状态时，才能计算Cp。

第4题：



A.过程能力不足 B.应改进过程

C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态

E.应减小过程中心和技术中心的偏移量


答案：A,B,C
解析：

第5题：

关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

D.异常因素会导致过程失控

E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


答案：A,B,D
解析：
。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

第6题：

关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态


答案：B,D
解析：
。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

第7题：

加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
下列推断中，正确的是（ ）。
A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


答案：B
解析：
。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

第8题：

根据上述计算结果，判断过程（ ）。

A.处于统计控制状态和技术控制状态

B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态

C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态

D.未处于统计控制状态和技术控制状态


正确答案：B
B。

第9题：

分析用控制图主要分析内容有（ ）。A.该过程的不合格品率
B.该过程的能力指数是否满足要求（也称技术稳态）
C.所分析的过程是否处于统计控制状态（也称统计稳态）
D.所分析的过程是否满足顾客要求
E.分析过程的合格品率


答案：B,C
解析：
分析用控制图主要分析两方面的内容：①所分析的过程是否处于统计控制状态；②该过程的过程能力指数是否满足要求。维尔达把过程能力指数满足要求的状态称作技术稳态。

第10题：

从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（）。

A.过程处于统计控制状态
B.具有足够的生产能力
C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力
D.过程处于统计控制状态但过程能力不足


答案：C
解析：

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