X射线荧光中所谓的基体,是指整个分析试样的元素,但不包括()。

题目

X射线荧光中所谓的基体,是指整个分析试样的元素,但不包括()。

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相似问题和答案

第1题:

X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。


正确答案:错误

第2题:

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。

  • A、增大
  • B、减小
  • C、不变
  • D、无变化

正确答案:B

第3题:

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。


正确答案: 基体:就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有:
吸收—增强效应,在复杂的样品中,元素间的相互影响,引起IK的变化;
非均匀效应,该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等;
表面效应,由于表面不平整,大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法:使用与未知样基体组成相似的标准样品,常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性(或二次曲线)
薄试样法:当试样的厚度仅为几百或几千埃时,其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和(或)添加重吸收剂,使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法:在试样内加入已知量的内标元素,该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似;在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间,不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法:在未知样中加入一定量的待测元素,比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化;常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法:试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似,也就是说,它们的强度比与试样无关;所选的散射线可以是:X光管靶材的相干和非相干散射线,试样对原级谱的连续谱的散射(即背景);所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线,所选散射线有足够的强度。

第4题:

X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。


正确答案:正确

第5题:

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。


正确答案:错误

第6题:

X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。

  • A、气体
  • B、惰性
  • C、分析
  • D、氧化性

正确答案:C

第7题:

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应


正确答案: 基体是指样品中除分析元素外的其它组成元素,由于分析元素的受到样品内其它元素的影响,发生强度减弱或增强,从而破坏X射线荧光的强度与浓度的线性关系,这种影响称为基体效应。

第8题:

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。


正确答案:正确

第9题:

X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。


正确答案:错误

第10题:

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()

  • A、定性分析
  • B、定量分析
  • C、都不是

正确答案:A,B

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