测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

题目

测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()

  • A、整体受潮
  • B、绝缘油劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷
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第1题:

测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是( )。

A.绝缘整体受潮
B.存在贯穿性的导电通道
C.绝缘局部严重受潮
D.绝缘中的局部缺陷

答案:D
解析:

第2题:

tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

A

B



第3题:

介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()


参考答案:错

第4题:

测量介质损耗因数,通常不易发现()。

  • A、整体受潮
  • B、绝缘油劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

正确答案:D

第5题:

当被试品具有较大电容时,tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。

A

B



第6题:

测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是()。

A绝缘整体受潮

B存在贯穿性的导电通道

C绝缘局部严重受潮

D绝缘中的局部缺陷


D

第7题:

通过测量介质损耗角正切值可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。

A

B



第8题:

下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是()。

A.绝缘油脏污劣化

B.整体受潮

C.大容量设备的局部缺陷

D.全面老化


正确答案:C

第9题:

变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器()、严重的局部缺陷等。

  • A、局部受潮
  • B、整体赃污
  • C、整体受潮
  • D、局部受潮绝缘油劣化

正确答案:C,D

第10题:

测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()

  • A、整体受潮
  • B、整体劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

正确答案:D